MECHALYSE
Métrologie & données · PRO

Métrologie / Capabilité Cp-Cpk

Analyser un échantillon de mesures et calculer les statistiques descriptives ainsi que Cp/Cpk par rapport à des limites de spécification.

Accès ProMéthode et hypothèses visibles

Quand l’utiliser ?

Lecture rapide d’un échantillon de production lorsque les spécifications sont connues et que les conditions d’interprétation de Cp/Cpk sont pertinentes.

Entrées principales

  • Série de mesures
  • LSL et USL
  • Cible optionnelle
  • Unité et précision d’affichage

Résultats fournis

  • N, min, max, étendue, moyenne, médiane
  • Variance et écart-type échantillon s
  • Cp, Cpu, Cpl, Cpk
  • Biais par rapport à la cible
  • Taux observé hors spécification
  • Histogramme et séquence

Méthode

  • s = √[Σ(xi−x̄)²/(n−1)]
  • Cp = (USL−LSL)/(6s)
  • Cpu = (USL−x̄)/(3s)
  • Cpl = (x̄−LSL)/(3s)
  • Cpk = min(Cpu,Cpl)

Hypothèses et limites

  • Écart-type d’échantillon avec n−1.
  • Cp/Cpk nécessitent un procédé suffisamment stable et des hypothèses de distribution adaptées.
  • Ce module ne remplace ni une étude SPC complète ni une étude MSA/R&R.

Exemple de validation

Cas validé : mesures [10,20,30,40,50], LSL = 0, USL = 60, cible = 30 → moyenne = 30, s = √250 ≈ 15,811, Cp ≈ 0,632.

Capabilité procédé

Que signifient Cp et Cpk ?

Cp

Cp = (USL − LSL) / (6s)

Cp compare la largeur de la tolérance à la dispersion mesurée, sans tenir compte du centrage du procédé.

Cpk

Cpk = min[(USL − x̄)/(3s), (x̄ − LSL)/(3s)]

Cpk tient compte à la fois de la dispersion et du décentrage par rapport aux limites de spécification.

Pourquoi Cpk ≤ Cp ?

Parce que Cpk pénalise le décentrage. Lorsque le procédé est parfaitement centré entre LSL et USL, Cp et Cpk se rapprochent.

Et le seuil 1,33 ?

1,33 est souvent utilisé comme repère de capabilité dans certains contextes industriels, mais ce n’est pas un critère universel. Les exigences de votre client, procédé ou référentiel priment.